X射線衍射儀
創(chuàng)新的交叉光學（B&P）系統(tǒng)
交叉光學（B&P）系統(tǒng)是X射線衍射儀發(fā)展過程中突破性技術(shù)進步，即衍射儀測角儀兩套光學系統(tǒng)并存，軟件控制,實現(xiàn)在發(fā)散光學系統(tǒng)（B）與平行光學系統(tǒng)（P）相互切換，滿足不同測試目的需要，拓展衍射儀應(yīng)用領(lǐng)域。
發(fā)散光學系統(tǒng)（B）：用于常規(guī)的材料結(jié)構(gòu)分析，物相定性、定量分析、Kα1、α2剝離、全譜圖擬合、衍射線條指標化、無標樣定量分析等功能。
平行光學系統(tǒng)(P)：由X射線多層膜反射鏡將發(fā)散光聚焦成平行光束，平行光束發(fā)散度小于0.5mrad。與三維樣品架配合，實現(xiàn)對大于200nm薄膜樣品測量?？蓪崿F(xiàn)對薄膜樣品進行薄膜反射分析XRR(針對多晶、單晶多層薄膜厚度、密度、粗糙度進行精確分析）、薄膜掠入射分析GIXRD(精確分析多層膜中材料的組成、次序、取向等)。
可適用于：DX-2700系列、DX-2800X射線衍射儀。
