材料結(jié)構(gòu)分析
材料結(jié)構(gòu)分析：
X射線衍射儀是確定未知樣品物相組成最常用技術(shù)。X射線衍射進(jìn)行相結(jié)構(gòu)鑒別，區(qū)分樣品中主要相，次要相，和微量相化合物、元素含量，分析結(jié)果還包括物相名稱，化學(xué)式，晶體系統(tǒng)，晶胞參數(shù)晶粒尺寸等信息。使用晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)庫(kù)ICSD和材料結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)庫(kù)ICDD數(shù)據(jù)庫(kù)作為樣品結(jié)構(gòu)分析依據(jù)，使用Rietveld分析方法可以得到最可靠物相定量分析結(jié)果和物相結(jié)構(gòu)完整的信息。
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